Проверка качества сверхпроводника

ИЗОБРЕТЕНИЕ:

Способ измерения критических параметров гибких образцов сверхпроводника и устройство для его осуществления

ПАТЕНТ:

2783918

ПАТЕНТОБЛАДАТЕЛЬ:

Федеральное государственное бюджетное учреждение «Национальный исследовательский центр «Курчатовский институт»

ДЛЯ ЧЕГО:

Для регулярного мониторинга электрофизических свойств высокотемпературных сверхпроводящих материалов, которые широко используются в энергетике (термоядерные реакторы), транспорте (поезд на магнитной подушке), медицине (магнитно-резонансная томография).

ИННОВАЦИЯ:

Основной характеристикой любого сверхпроводника, которая позволяет оценить его возможности, является критический ток. Оценка критического тока - необходимая процедура перед проектированием любого сверхпроводящего электротехнического устройства, при которой проводится анализ влияния всех факторов на критический ток сверхпроводника. Основное преимущество предложенного изобретения - определение сразу нескольких параметров сверхпроводника и их взаимосвязь, что позволяет более точно судить о его качестве. На основе полученных данных может быть сделан оперативный вывод о возможности использования исследуемого сверхпроводника в том или ином электронном приборе.

СФЕРА
ПРИМЕНЕНИЯ:

Контроль состояния электроники со сверхпроводящими материалами. Также изобретение достаточно технологично в производстве и легко может быть изготовлено практически в любой физической лаборатории.

Подробнее в опубликованном патенте.