Пресс-релиз о рабочем визите экспертов Японского патентного ведомства.

20 января - 2 февраля 2013 г.

С 20 января по 2 февраля 2013 г. в рамках программы обмена экспертами состоялся рабочий визит экспертов Японского патентного ведомства в Роспатент. Основной целью визита являлось ознакомление со структурой и функциями Роспатента и ФИПС, в частности изучение процедуры экспертизы заявок, работы с поисковой системой PatSearch и автоматизированными системами документооборота.

Представители Японского патентного ведомства высоко оценили работу российских экспертов и выразили большую заинтересованность в дальнейшем сотрудничестве.

В рамках рабочего визита было организовано посещение Российской государственной академии интеллектуальной собственности (РГАИС), а также двухдневная стажировка в Евразийское патентное ведомство.